睿米®微通道标准漏孔家族

全气体支持: 包括但不限于He, H2, 5%H2/95%N2, D2, He3, Ar, Ke, Ne, Xe, N2, CO2, CO, CH4, 各种卤素/冷媒, 混合气体...)。 全量程、全压力支持:8 ~ 10-12 mbar.L/sec, 0-40Mpa;并支持同时指定压力和漏率精确定制。
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睿米®有源(带气室)He标准漏孔系列

抗震抗摔|超高压力|极低衰减 He标准漏孔(微通道工艺):E-3 ~ E-9mbar.L/sec 睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®常用标准漏孔型号选型&对照表

睿米®常用标准漏孔型号选型&对照表--适用于薄型电池,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®电磁阀真空He标准漏孔

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®十二烷C12H26标准漏孔

温度需要控制在15℃~25℃,且保持温度稳定(±0.5℃),本产品标定温度为20℃,为保证漏率稳定,请尽量保证测试环境为20℃(温度变化1℃,漏率指数变化约11~12%)
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睿米®有源(带气室)He标准漏孔

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米® He标准漏孔10-2mbar.L/s(10 -3Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-3mbar.L/s(10 -4Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-4mbar.L/s(10-5Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-5mbar.L/s(10-6Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-6mbar.L/s(10-7Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-7mbar.L/s(10-8Pa.m³/s)

微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减,睿米标准漏孔性能指标(如漏率稳定性、可重复性,抗温度影响,抗堵塞,抗震抗摔,高低温测试)优于国外/国内同类产品,使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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