睿米®电磁阀真空He标准漏孔
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®十二烷C12H26标准漏孔
温度需要控制在15℃~25℃，且保持温度稳定（±0.5℃），本产品标定温度为20℃，为保证漏率稳定，请尽量保证测试环境为20℃（温度变化1℃，漏率指数变化约11~12%）
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睿米®DMC电解液（碳酸二甲酯）标准漏孔，液体漏孔
睿米®DMC电解液标准漏孔，采用睿米®自研微通道毛细管技术，支持抗震抗摔。为新能源电池检测直接提供精确定量分析工具和标准！
适用于四级杆质谱电池包进行直接检测，节省氦气。
可以根据客户要求定制形状、漏率。
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睿米®正压标准漏孔产品手册和配置指导
睿米®正压标准漏孔产品手册和配置指导, 包括：
1. 氦气He正压漏孔-带气源，抗震抗摔|超高压力（10Mpa）|极低衰减|无需补气|免维护|使用成本低，适用任何氦质谱检漏仪或氦检设备。
2. 氢气He正压漏孔（氮氢气正压漏孔，5%H2/95%N2）-带气源，抗震抗摔|超高压力（10Mpa）|极低衰减|无需补气|免维护|使用成本低，适用任何氦质谱检漏仪或氦检设备。
3. 无源He正压漏孔，外接一定压力的气源，工件模拟仿真，抗震抗摔（1.2米跌落测试5次通过）|支持压力0-40Mpa|抗堵塞|温度-20-65℃|使用寿命长
4. 无源H2正压漏孔，外接一定压力的气源，工件模拟仿真，抗震抗摔（1.2米跌落测试5次通过）|支持压力0-40Mpa|抗堵塞|温度-20-65℃|使用寿命长
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睿米®有源(带气室)标准漏孔-其他气体
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®有源(带气室)-氮气（N2）标准漏孔
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®有源(带气室)-氩气（Ar）标准漏孔
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®有源（带气室）He标准漏孔
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米® He标准漏孔10-2mbar.L/s(10 -3Pa.m³/s)
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-3mbar.L/s(10 -4Pa.m³/s)
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-4mbar.L/s(10-5Pa.m³/s)
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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睿米®He标准漏孔10-5mbar.L/s(10-6Pa.m³/s)
微通道工艺|抗震抗摔|超高压力|极低衰减，睿米标准漏孔性能指标（如漏率稳定性、可重复性，抗温度影响，抗堵塞，抗震抗摔，高低温测试）优于国外/国内同类产品，使用寿命数倍于国外/国内同类产品
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