不同气体和压力对真空漏孔漏率的影响


在科技和工业领域,真空技术占据了重要的地位。真空漏孔作为真空系统中的关键组件,其性能的稳定性和可靠性直接影响着整个真空系统的运行效果。在实际应用中,不同气体和压力对真空漏孔漏率的影响是不容忽视的因素。本文将从理论和实验两个方面,探讨不同气体和压力对真空漏孔漏率的影响。睿米®标准漏孔采用自研RMI-MTCTM微通道毛细管工艺,支持高压、高低温、抗震抗摔,漏率精准稳定,几乎不受温度影响。采用自研RMI-MetalTM金属密封工艺,密封性能领先业界。自研RMI-ZVTM零体积阀,死体积领先业界。自研RMI-CalTM算法,实现漏率精确定制,广泛应用于新能源、科研等领域,满足各种气体和漏率需求。

一、理论分析

真空漏孔的漏率是指在一定时间内,通过漏孔的气体流量。理论上,漏率与气体的性质、漏孔的结构以及漏孔两端的压力差等因素有关。其中,气体的性质和压力是影响漏率的重要因素。

不同气体分子的大小、形状和质量等特性不同,因此在通过漏孔时受到的阻碍作用也不同。一般来说,分子直径较大、形状复杂的气体更容易受到漏孔壁的阻碍,从而导致漏率降低。而分子直径较小、形状简单的气体则更容易通过漏孔,漏率相对较高。

另一方面,压力也是影响漏率的重要因素。在真空系统中,压力的变化会直接影响到气体分子通过漏孔的动力学行为。当压力较低时,气体分子之间的碰撞减少,分子平均自由程增加,从而更容易通过漏孔。因此,在低压力条件下,漏率通常较高。随着压力的升高,气体分子之间的碰撞增多,分子平均自由程缩短,通过漏孔的难度增加,漏率相应降低。

二、实验研究

为了更深入地了解不同气体和压力对真空漏孔漏率的影响,我们设计了一系列实验。实验选用了几种常见的气体,如氮气、氧气和氩气,并在不同的压力下测试了它们的漏率。

实验结果表明,在同一压力下,不同气体的漏率存在显著差异。其中,氮气由于分子直径较小、形状简单,漏率相对较高;而氧气和氩气的分子直径较大、形状复杂,漏率相对较低。这一结果与理论分析相符。

此外,实验还发现压力对漏率的影响也十分显著。在低压力条件下,各种气体的漏率均较高;随着压力的升高,漏率逐渐降低。这一趋势在各种气体中均保持一致。

三、结论与展望

通过理论和实验的研究,我们可以得出以下结论:不同气体和压力对真空漏孔漏率具有显著影响。在实际应用中,需要根据具体的气体种类和压力条件来选择合适的真空漏孔类型和参数,以确保真空系统的稳定运行和高效性能。

展望未来,随着真空技术的不断发展和进步,对真空漏孔漏率的研究将更加深入和细致。未来研究可以关注以下几个方面:一是探索新型材料和结构以提高真空漏孔的性能;二是研究更复杂的气体混合物在真空漏孔中的传输行为;三是开发先进的测试技术和设备以更准确地测量和评估真空漏孔的漏率性能。通过这些研究,有望为真空技术的发展和应用提供更为坚实的理论支撑和技术支持。

更多新闻


RMI-PSOZV™主动关闭零体积气动阀标准漏孔

1.高真空或超高真空系统零冲击 2.自然衰减接近0,保证昂贵气体不被浪费,而且漏率恒定 3.极低衰减|漏率稳定|多年免补气|免维护 4.适合大漏率、高真空/超高真空、四级杆质谱等场景,特别是需要使用昂贵气体、保证气体纯度的场景(如Xe,Kr等同位素气体) 5.支持He,H₂,D₂,HD,N₂,O₂,Ar,Kr,Xe,Ne,CO₂,CO,CH₄,C₂H₆,…,等所有气体,或混合气(如Xe-132:Kr-84:N2:Ar:He=1:1:1:1:1:1,客户指定比例或提供的气体)


南方联创发布应用于半导体\RGA\质谱分析十二烷C12H26标准漏孔

十二烷C12H26标准漏孔 应用于质谱/RGA和半导体行业,用于新能源电池包直接检测的​电解液DMC标准漏孔产品


睿米®标准漏孔暴力测试系列(一):无源标准漏孔(4.75E-5mbar.L/s, He),暴力低温急冻|暴力抗震抗摔|超强漏率稳定性

视频中无源漏孔标称漏率为4.75x10-5mbar.L/s@2bar表压, 放在低温-20℃急冻1个晚上,取出后进行暴力砸摔,仍然能够正常工作,检测漏率为4.80~4.9x10-5mbar.L/s,漏率几乎不受温度影响,表现出超强的漏率稳定性。在考虑到检漏仪本身存在系统误差的情况下,漏率相差仅1~2%,这样验证了睿米®自研微通道毛细管与密封技术制作的标准漏孔业界领先的温度系数,只有0.1%/℃。 天花板级的性能,漏孔界的神级存在!#遥遥领先!


睿米®标准漏孔暴力测试系列(二):有源标准漏孔(1.16E-7mbar.L/s, He),暴力低温急冻|暴力抗震抗摔|超强漏率稳定性

睿米®标准漏孔暴力测试系列(二):有源标准漏孔(1.16E-7mbar.L/s, He),暴力低温急冻|暴力抗震抗摔|超强漏率稳定性


睿米®标准漏孔暴力测试系列(三):有源标准漏孔(1.08E-8mbar.L/s, He),暴力低温急冻|暴力抗震抗摔|超强漏率稳定性

睿米®标准漏孔暴力测试系列(三):有源标准漏孔(1.08E-8mbar.L/s, He),暴力低温急冻|暴力抗震抗摔|超强漏率稳定性


睿米®标准漏孔测试系列(四):正压标准He漏孔,超高压力|极低衰减|不用更换气瓶|免维护|使用成本低|遥遥领先

睿米®标准漏孔测试系列(四):正压标准He漏孔,超高压力|极低衰减|不用更换气瓶|免维护|使用成本低|遥遥领先